* Difundir los fundamentos y aplicaciones de técnicas neutrónicas y de rayos-X para caracterización de nanomateriales y materia blanda.
* Contribuir a la formación de estudiantes de posgrado con conocimientos en técnicas experimentales de avanzada como SANS, SAXS, XRR.
* Generar un espacio de encuentro donde los usuarios argentinos que emplean (o tienen interés en emplear en el futuro) grandes instalaciones (laboratorio de haces de neutrones, fuentes de luz sincrotrón) puedan intercambiar ideas y proponer acciones conjuntas.

La modalidad de la Escuela consistirá en el dictado de clases teóricas y clases prácticas con una carga horaria total de 35 h. Las clases prácticas consistirán en el entrenamiento de capacidades relacionadas con programas de análisis de los datos obtenidos con las diferentes técnicas estudiadas (GIXRD, SAXS, XRR, SAXS). La evaluación consistirá en un examen que se rendirá en forma virtual.

La Escuela está dirigida a estudiantes de posgrado (áreas de química, física, ingenierías, geología, etc) que requieran la utilización de técnicas de rayos X con luz sincrotrón para el análisis de materiales (PXRD, GIXRD, SAXS, XRR). Se prevé además la participación de estudiantes de grado avanzado, profesionales y docentes-investigadores de campos afines, hasta cubrir un cupo máximo de 40 alumnos.
Se encuentra en trámite la acreditación de la Escuela como curso de posgrado, dentro del Posgrado de Ciencia de Materiales de la Facultad de Ingeniería de la UNMdP. 

Programa Preliminar

1- Características generales de fuentes de radiación sincrotrón. Anillos de almacenamiento. Descripción y funcionamiento de los componentes principales. Características de la radiación emitida. Líneas de luz sincrotrón: descripción general, óptica y detectores. Aplicaciones principales. Presentación de la fuente de radiación sincrotrón SIRIUS y del Sistema Nacional de rayos X.

2- Difracción de rayos X convencional (XRD): conceptos generales, tubos convencionales de rayos X vs. radiación sincrotrón, instrumentación, aplicaciones. El método Rietveld de refinamiento de patrones. Difracción de rayos X con ángulo rasante (GIXRD)

3- Dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS): conceptos generales, instrumentación, aplicación, dispersión a bajo ángulo en incidencia rasante, dispersión anómala.

4- Reflectometría de rayos X (XRR): base teórica de óptica de rayos X, instrumentación, análisis de datos, aplicaciones en superficies, películas delgadas y materiales multicapa.

5-Espectroscopía de correlación de fotones de rayos X (XPCS): conceptos de coherencia y fuentes de luz coherentes, fundamentos de la técnica, métodos de análisis, aplicaciones a sistemas blandos y poliméricos.

6- Dispersión de neutrones a bajo ángulo (SANS): conceptos generales, instrumentación y aplicaciones Dispersión a bajo ángulo en incidencia rasante, dispersión inelástica.

7- Reflectometría de neutrones: fundamentos, instrumentación, análisis de datos, aplicaciones en superficies y materiales multicapa.