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Laboratorio de Rayos X

El Laboratorio de RayosX es un laboratorio general del INTEMA creado en 2010 dedicado al análisis de materiales mediante difracción y fluorescencia de rayos X. Las actividades desarrolladas en el laboratorio comprenden trabajos de investigación y de transferencia.

La fluorescencia de Rayos X (FRX) es una técnica analítica muy versátil y no destructiva que nos permite determinar la composición química en una amplia variedad de muestras sólidas y líquidas.La DRX para materiales policristalinos nos permite, por medio de una técnica relativamente simple y no destructiva, lograr la identificación y la determinación cuantitativa de las distintas fases cristalinas presentes en muestras en polvo, sólidas, láminas y superficies.

Además, podemos realizar análisis de superficies y películas delgadas por incidencia rasante y así obtener información de las capas superiores del material analizado.

Los análisis pueden complementarse con el método de refinamiento de Rietveld, que nos permite realizar un análisis cuantitativo y refinar parámetros de celda, factores térmicos, entre otros, utilizando todos los picos del difractograma.
Nuestro Laboratorio se encuentra habilitado por el área de Radiofísica Sanitaria del Ministerio de Salud Pública de la Nación y se encuentra adherido del Sistema Nacional de Rayos X (SNRX, Ministerio de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva).Los turnos para FRX y DRX se solicitarán a través del el Sistema de Gestión de Turnos (SGT), de uso obligatorio para todos los centros adheridos al SNRX. Para poder solicitar un turno dentro del SGT, deberán ingresar al siguiente link: http://sistemasnacionales.mincyt.gob.ar/gestion_turnos.php

Una vez aprobado el usuario, para solicitar turno deberán ingresar al
link: http://www.microscopia.mincyt.gob.ar/turnos.php

Equipamiento

• Fluorescencia de Rayos X
– Espectrómetro de fluorescencia de Rayos X PANalytical MiniPal 2 PW4024
• Difracción de Rayos X
– Difractómetro de Rayos X PANalytical X´Pert PRO PW3040
– Difractómetro de Rayos X Philips PW1830

Oferta Tecnológica

• Fluorescencia de Rayos X
– Identificación elemental y análisis semicuantitativo (para elementos a partir de Z=11)
– Determinación de curvas de calibración para cuantificación elemental.

• Difracción de Rayos X
– Identificación de fases cristalinas presentes en la muestra
– Cuantificación de fases en muestras sintéticas mediante método de Rietveld
– Determinación de tamaño de cristalita
– Determinación de tensiones residuales
– Determinación de orientación preferencial
– Determinación de espesores de películas nanométricas por reflectometría de RX

Contacto: Fuchs Vanesa | Profesional Asistente CONICET | vfuchs@fi.mdp.edu.ar | Int. 1430
Comisión asesora: Berruet Mariana, D’Amico David, Colombo Diego, Ollier Romina, Botta Pablo.

INTEGRANTES

> Botta, Pablo Martín
> Fuchs, Vanesa María